申請高效率模組應符合合格模組產品登錄要求:

效率(%)*(Efficiency) 單晶模組 ≧17.5 % 多晶模組 ≧16.6 %

電致衰減**(Potential Induced Degradation, PID) 依照電致衰減測試方法，功率衰減率5 %(含)以下。

 

*1.效率(%)=「[最大模組輸出功率(W)/模組外框面積(m2)] / 1,000 W·m-2」X 100 %。

2.模組輸出功率依照IEC 61215測試標準中10.6節STC下測試方法。

 

**1.電致衰減測試方法係依照IEC/TS 62804-1：2015測試標準，或於環境試驗箱內以模組溫度(85 ± 2)℃、試驗箱相對濕度(85 ± 3) %、施加模組電壓-1,000 V條件，進行96小時以上，測試前後模組輸出功率衰減率小於5 %(含)。