議程:
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時間
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主題& 講師
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13:30 – 13:50 |
報到
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13:50 – 14:00 |
歡迎致詞
吳鴻森, 室主任, 工業技術研究院
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14:00 – 14:30
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配合太陽能模組及電池的物理特性運輸可靠度
李昆達, 執行長, 金頓科技股份有限公司
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14:30 – 15:00
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Testing of Potential Induced Degradation (PID) from Solar Cell to Module
Dr. Christian Hagendorf, Group Leader Diagnostics Solar Cells, Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics CSP
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15:00 – 15:30
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Evaluation of Interconnection on PV Modules
謝心心, 資深研究員, 工業技術研究院
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15:30 – 15:45
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中場休息與交流
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15:45 – 16:15
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Test Method to Evaluate Accelerated Thermo Humidity Resistance of PV Encapsulation
林敬傑, 首席顧問, 傑能科技顧問有限公司
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16:15 – 16:45
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Snail Trails, Cell Cracks and Polymer Foil Testing
Dr.Sylke Meyer, Team Leader Chemical Analytics, Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics CSP
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16:45
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賦歸
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￭ 主辦單位保留議程更改之權利。
￭ 本日議程將以英文為主。
￭ 論壇全程禁止錄音/攝錄影。
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