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申請高效率模組應符合合格模組產品登錄要求:
效率(%)*(Efficiency) 單晶模組 ≧17.5 % 多晶模組 ≧16.6 %
電致衰減**(Potential Induced Degradation, PID) 依照電致衰減測試方法,功率衰減率5 %(含)以下。
*1.效率(%)=「[最大模組輸出功率(W)/模組外框面積(m2)] / 1,000 W·m-2」X 100 %。
2.模組輸出功率依照IEC 61215測試標準中10.6節STC下測試方法。
**1.電致衰減測試方法係依照IEC/TS 62804-1:2015測試標準,或於環境試驗箱內以模組溫度(85 ± 2)℃、試驗箱相對濕度(85 ± 3) %、施加模組電壓-1,000 V條件,進行96小時以上,測試前後模組輸出功率衰減率小於5 %(含)。